Array 製程後的全膜膜厚測量或 PI膜印後的膜厚量測
本設備用於量測固化後 dummy ( ITO / Bare ) 上 PI 膜層厚度，對 PI 膜厚度特性進行監控的作用。
產品介紹
| Head | SE | SR |
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| 靜態重複性 |
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假日價
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| 動態重複性 |
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| 設備間精度 |
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| 量測範圍 |
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| 波長範圍 |
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Function
反射儀(SR)膜厚量測
Advantage
數據 3D 化
複合多種量測儀
